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Examen TIA (Microscopía) Feb 2008 – Biotecnología UFV

Examen de Técnicas Instrumentales Avanzadas (TIA). Parte de Microscopía Electrónica.

1. Explica brevemente el origen del contraste en las imágenes de microscopía electrónica.

2. (a) Explica brevemente si son complementarias la criomicroscopía electrónica y la técnica de tinción negativa. (b) ¿Y la criomicroscopía electrónica tridimensional y la cristalografía de rayos X?

3. Describe brevemente los siguientes patrones de difracción:

NOTA: Los patrones A y B proceden de imágenes tomadas a la misma magnificación del mismo microscopio electrónico de transmisión. El patron C procede de otro microscopio electrónico, y la imagen ha sido tomada a la misma magnificación y en las mismas condiciones que B.

4.- a) Explica cómo es posible obtener reconstrucciones tridimensionales con resolución subnanmétrica. b) Describe brevemente el polimorfismo estructural de las proteínas. ¿Es posible analizaralo con las técnicas de microscopía electrónica? Cita algún ejemplo.

5.- La transformada de Fourier (FFT) de una imagen de criomicroscopía electrónica, tomada a una magnificación nominal de 50.000X y en un microscopio electrónico operado 100 kV, es como se muestra a la izquierda. Teniendo en cuenta la FFT de un standard consistente en una regla con separaciones de 0.1 mm, mostrada a la derecha, describa los siguienters parámetros:

a) El rango(s) de frecuencia(s) en que el contraste está invertido

NOTAS:
1.- Se proporciona una regla a escala 1:1.
2.- Fórmula necesaria: R= (standard x X)/(Mag x Y)

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